【上和下和定義】基礎講義 |黎曼積分 |函數圖形下的面積與黎曼和1 |

【上和下和定義】基礎講義 |黎曼積分 |函數圖形下的面積與黎曼和1 |

上和下和定義是構成數據結構和算法基礎的重要概念。上和是指數據在數據結構中的垂直結構關係,而下和則是指水平的結構關係;定義則是用來描述數據結構特性的形式化表述。在軟件開發中,理解和應用上和下和定義對於設計高效的數據結構和算法至關重要。

  • 黎曼積分的定義與應用

    在分析學中,黎曼積分的概念是對函數在特定區間上的積分進行嚴格定義的開端。黎曼積分由德國數學家伯恩哈德·黎曼提出,它提供了一種定義函數在給定區間上積分的方法,這是古典微積分學的核心問題之一。雖然黎曼積分存在一些技術上的限制,但這些限制後來被黎曼-斯蒂爾傑斯積分和勒貝格積分所彌補。

    黎曼積分的概念

    考慮一個定義在區間[a,b]上的非負函數f(x)。我們想要計算的,是函數f(x)所代表的曲線與x軸以及兩條垂直線x=a和x=b所圍成的圖形的面積(如上圖中的區域S)。這一面積可以表示為:

    改寫後的文章

    • 黎曼積分的定義與應用

      上和下和定義 Play

      黎曼積分的基礎思想是,通過將x軸上的分割越來越細,所得到的矩形面積和將越來越接近實際圖形S的面積(見上圖的兩種情況)。值得注意的是,如果函數為負值,即f: [a,b] ↦ ℝ0,那麼所對應的面積為負值。

      分割與子區間

      一個閉區間[a,b]中的一個分割是指在該區間中選擇一個有限的點列:

      a = x0 < x1 < x2 < ... < xn = b

      上和下和定義

      每個閉區間[xi, xi+1]被稱為一個子區間。

      改寫後的文章

      • 黎曼積分的定義與應用

        • 在數學分析中,黎曼積分被用來解決

          精緻化分割的定義

          在這篇文章中,我們定義了兩種分割方式:取樣分割和精緻化分割。首先,我們解釋一下取樣分割的定義。

          1. 取樣分割 的定義:當我們對閉區間 [a, b] 進行取樣分割時,我們會將其分隔成若干個子區間 [x_i, x_{i+1}],並且在每個子區間內選擇一個點 t_i,使得 x_i ≤ t_i ≤ x_{i+1}。這裡的 x_i 是一系列定義好的分隔點,總共 n 個。這樣得到的點 t_i 對應了閉區間 [a, b] 上的樣本點。

          2. 精緻化分割 的定義:設有兩組分割,一組是 x_0, \ldots, x_nt_0, \ldots, t_{n-1},它們構成了閉區間 [a, b] 的取樣分割;另一組是 y_0, \ldots, y_ms_0, \ldots, s_{m-1},它們構成了另一個分割。精緻化分割是指將兩組分割進行對比,並在某些條件下對原來的分割進行細化。

            上和下和定義

          精緻化分割的條件與應用

          在精緻化分割的定義中,並沒有提到具體的條件或應用。不過,這個概念可以用在很多需要對數據進行細緻分析的場合,比如在數值分析中,當需要提高計算精度或者對數據進行更深入的理解時,精緻化分割就可能用來對原來的分割進行細化。

          在實際應用中

          分割與精細化的概念

          另一個定義

          S

          {\displaystyle S}

          是函數

          f

          {\displaystyle f}

          在閉區間

          [
          a
          ,
          b
          ]

          {\displaystyle [a,b]}

          上的黎曼積分,當且僅當對於任意的

          ϵ
          >
          0

          {\displaystyle \epsilon >0}

          ,都存在一個取樣分割

          x

          0

          ,

          ,

          x

          n

          {\displaystyle x_{0},\ldots ,x_{n}}

          t

          0

          ,

          ,

          t

          n

          1

          {\displaystyle t_{0},\ldots ,t_{n-1}}

          ,使得對於任何比其「精細」的分割

          y

          0

          ,

          ,

          y

          m

          {\displaystyle y_{0},\ldots ,y_{m}}

          and

          s

          0

          ,
          …,

          s

          m
          −1

          {\displaystyle s_{0},\ldots ,s_{m-1}}

          ,都有:

          條件 澄清
          |上黎曼和 – S| < ϵ 上黎曼和的上取樣點的函數值總和與S的差值小於ϵ。
          |下黎曼和 – S| < ϵ 下黎曼和的下取樣點的函數值總和與S的差值小於ϵ。

          這兩個定義是等價的。如果有一個

          S

          {\displaystyle S}
          下面是改寫後的文章,同時滿足您的要求:

          改寫後的文章

          在研究連續函數在某區間上的積分時,我們可以採用黎曼積分或達布積分的方法。黎曼積分的方法通過分割、近似和求和來定義,而達布積分則是基於函數在子區間上的上確界和下確界。為了簡化計算和提高準確性,我們通常使用達布積分的方法。

          上和下和定義 Play

          延伸閲讀…

          姓名: 重點1:函數圖形下的面積與黎曼和1.規則 …

          黎曼積分- 維基百科,自由的百科全書

          如果有兩個序列xy,並且對於任意i(從0n),都存在r(i)使得xi = yr(i),並且存在r(i) ≤ j < r(i + 1)使得ti = sj,那麼這個分割被稱為序列xy的一個精細化分割。簡單來説,就是在原有的分割點基礎上增加了新的分割點。

          精細度的偏序關係

          上和下和定義

          在所有取樣分割中,我們可以定義一個偏序關係「精細」,如果一個分割是另一個分割的精細化分割,那麼前者比後者更「精細」。

          1. 黎曼積分的定義與證明

          2. 函數在閉區間上的黎曼積分

          3. 逐點估計與黎曼和

          4. 定義黎曼和

          5. 求和表達式
          6. 每一項 子區間長度 函數值
            f(ti) xi+1 – xi f(ti)
          7. 「越來越精細」的分割

          8. 定義「精細」分割
          9. 在分割越來越細時,黎曼和趨向極限。

          10. 黎曼和的極限

          11. 極限的四個條件

          12. 條件1
          13. 條件2
          14. 條件3
          15. 條件4
          16. 這四個條件保證了黎曼和的極限存在。

          17. 結論

          18. 黎曼積分的數學表述

          19. 積分符號

          20. 積分的上限和下限
          21. 黎曼積分可以用一個簡單的數學表達式來表示。

          原文章節 改寫後的文章節
          函數f在閉區間[a, b]上的黎曼積分,當且僅當對於任意的ϵ>0,都存在δ>0,使得對於任意的取樣分割x0, …, xn、t0, …, tn−1,只要它的子區間長度最大值λ≤δ,就有: 函數<h2>f

          在閉區間〈table width=”100%”>

          原文章節 改寫後的文章節
          也就是説,對於一個函數f,如果在閉區間[a, b]上,無論怎樣進行取樣分割,只要它的子區間長度最大值足夠小,函數f的黎曼和都會趨向於一個確定的值,那麼f在閉區間[a, b]上的黎曼積分存在,並且定義為黎曼和的極限,這時候稱函數f為黎曼可積的。 這個定義的缺陷是沒有可操作性,因為要檢驗所有λ≤δ的取樣分割是難以做到的。下面引進另一個定義,然後證明它們是等價的。

          這個定義的缺陷是沒有可操作性,因為要檢驗所有λ≤δ的取樣分割是難以做到的。下面引進另一個定義,然後證明它們是等價的。

          另一個定義

          S

          {\displaystyle S}

          是函數

          f

          {\displaystyle f}

          在閉區間

          [
          a
          ,
          b
          ]

          {\displaystyle [a,b]}

          上的黎曼積分,當且僅當對於任意的

          ϵ
          >
          0

          {\displaystyle \epsilon >0}

          ,都存在一個取樣分割

          x

          0

          ,

          ,

          x

          n

          {\displaystyle x_{0},\ldots ,x_{n}}

          t

          0

          ,

          ,

          t

          n

          1

          {\displaystyle t_{0},\ldots ,t_{n-1}}

          ,使得對於任何比其「精細」的分割

          y

          0

          ,

          ,

          y

          m

          {\displaystyle y_{0},\ldots ,y_{m}}

          and

          s

          0

          ,
          …,

          s

          m
          −1

          {\displaystyle s_{0},\ldots ,s_{m-1}}

          ,都有:

          條件 澄清
          |上黎曼和 – S| < ϵ 上黎曼和的上取樣點的函數值總和與S的差值小於ϵ。
          |下黎曼和 – S| < ϵ 下黎曼和的下取樣點的函數值總和與S的差值小於ϵ。

          這兩個定義是等價的。如果有一個

          S

          {\displaystyle S}
          下面是改寫後的文章,同時滿足您的要求:

          改寫後的文章

          在研究連續函數在某區間上的積分時,我們可以採用黎曼積分或達布積分的方法。黎曼積分的方法通過分割、近似和求和來定義,而達布積分則是基於函數在子區間上的上確界和下確界。為了簡化計算和提高準確性,我們通常使用達布積分的方法。

          延伸閲讀…

          基礎講義

          積分

          設函數
          f
          在閉區間
          [a,b]
          上連續,我們想要計算
          f
          在這個區間上的總積分。首先,我們將區間分成若干個子區間,並且選擇一個點
          x
          i
          ∈ [a,b]
          作為函數值的代表。然後,我們計算每個子區間上
          f
          的近似值,這通常通過使用函數在子區間端點的值來完成。

          我們定義一個量
          r
          ,它等於函數
          f
          在任意子區間
          [x
          i
          , x
          i
          +1
          ]
          上的最大變化量,即
          r
          = max(M
          i
          – m
          i
          )
          ,其中
          M
          i

          m
          i
          分別是函數在上、下確界。我們還定義一個小量
          δ
          ,它是子區間長度最小值和
          ϵ
          / (2rn)
          中的較小者。當子區間的長度小於
          δ
          時,函數
          f
          的黎曼和與達布和之間的差值最多為
          ϵ
          / 2
          。因此,當我們選擇的子區間滿足這個條件時,黎曼積分與達布積分之間的誤差將不大於
          ϵ

          由於這些原因,黎曼積分通常被定義為達布積分,因為這樣做簡化了計算,並且提供了更好的準確性。在實際應用中,我們改寫後的文章

          在數學的世界中,有一個鮮明的特徵,那就是函數的積分。當我們談到一個函數的黎曼積分,我們在討論一個將黎曼可積的函數映射到實數的線性泛函。這個積分,簡而言之,就是計算一個給定區間內的曲邊梯形面積。
          當我們將一個區間[a, b]均分成n份,每份長度為\(\Delta x = \frac{a – 0}{n} = \frac{a}{n}\),我們可以定義一系列的劃分點\(\{a_i\}\)和\(\{b_i\}\)。
          這些點的座標分別是\(\frac{ia}{n}\)和\(\frac{i(a+b)}{2n}\)。
          這樣,我們可以用這些點來構建矩形,並計算它們的面積和。
          當\(n\)趨向無限大時,這些矩形面積的和將逼近曲邊梯形的實際面積。
          同樣的道理可以用在計算函數\(D(x)\)的積分上,這個函數的值在有理數點上為1,在無理數點上為0。
          儘管\(D(x)\)的圖像無法畫出,但我們可以理解,不同的劃分方式和取值方法會導致不同的矩形面積和。
          這種不規則性體現了\(D(x)\)這個函數的獨特性和古怪性。
          黎曼幾何和複變函數論的創始人之一,格奧爾格·弗雷德裏希·波恩哈德·黎曼,對數學界產生了深遠的影響,他的名字也因黎曼猜想而流芳百世。